标准中涉及的相关检测项目

标准《GB 3430-1989 半导体集成电路型号命名方法》主要涉及半导体集成电路的命名规范，而并不直接涵盖具体的检测项目、检测方法或产品。然而，在集成电路领域，一些相关的标准或实践通常包括以下方面：

• 电气特性检测：测量器件的电流、电压、功耗等参数。

• 功能测试：验证集成电路在设计范围内是否正常工作。

• 温度循环测试：测试在不同温度下的性能稳定性。

• 物理外观检测：检查器件的封装完整性和引脚状态。

• 耐久性测试：考察器件在长期使用条件下的可靠性能。

• 使用示波器与频谱分析仪进行波形和频率响应的分析。

• 采用逻辑分析仪进行逻辑功能和时序的测试。

• 利用专业测试仪器进行环境应力筛选（ESS）和加速寿命测试（ALT）。

• 显微镜与金相分析用于物理结构的细节检查。

标准《GB 3430-1989》影响的产品通常包括各类半导体集成电路，例如：

• 微处理器和微控制器。

• 模拟和数字混合信号ICs。

• 存储器芯片，例如RAM和ROM。

• 专用集成电路（ASICs）。

• 其他按需定制的半导体解决方案。

GB 3430-1989 半导体集成电路型号命名方法的基本信息

标准名：半导体集成电路型号命名方法

标准号：GB 3430-1989

标准类别：国家标准(GB)

发布日期：1989-03-31

实施日期：1990-04-01

标准状态：现行

GB 3430-1989 半导体集成电路型号命名方法的简介

本标准规定了半导体集成电路型号的命名方法。本标准适用于按半导体集成电路系列和品种的国家标准所生产的半导体集成电路(以下简称器件)。GB3430-1989半导体集成电路型号命名方法GB3430-1989

GB 3430-1989 半导体集成电路型号命名方法的部分内容

中华人民共和国国家标准

半导体集成电路型号命名方法

The rule of type designatlon for semiconductorintegrated clrcuits

1主题内容与适用范围

本标准规定了半导体集成电路型号的命名方法。GB 3430—89

代替GR3430—B2

本标准适刃于按半导体集成电路系列和品种的国家标准所生产的半导体集成电路（以下简称器件)。

2型号的组成

器件的型号由五个部分组成其五个组或部分的符号及意义如下：第部分

用字母表示器件

符合国家标准

C符合国家标准

第一部分

用字母表示器件的类型

TTL电路

HTL电路

ECL电路

CMOS电路

存偕器

微型机电路

线性放大器

穗压器

非线性电路

接口电路

A/D转换器

D/A转换器

音响、电视电路

通讯专用电路

敏感电路

钟表电路

第二部分

用阿拉伯数字和

字符表示器件的

系列和品种代号

第二部分

用字母表示器件

的工作温度范围

中华人限共和副机电子工业部19890331批准意

0~70℃

..-25~-85℃

--55~85℃

.- 55~-125T

第四祁分

用字母表示器件的封装

多层陶瓷扁平

塑料扁平

黑瓷扁平

多展陶瓷双列直拥

黑瓷孜列插

塑料双列直桶

塑料单列直插

金属菱形

金属圆形

陶瓷片状载体

塑料片状载体

网格阵列

1990-04-01实施

3示例

3.1肖特基 T11.双 4输入与非门CT54S20MD

3.24 000系列cMS四双向开关

CC4066

3.3通用型运算放大器

GE3430—89

多层陶瓷双列直插封装(第四部分）55～125℃（第三部分）

一肖特基系列双4输入与非门（第二部分）TTL电路（第一部分）

符合国家标准（第0部分）

黑.瓷双列直插封装（第四部分）40～85℃(第三部分)

-4000系列四双向开关（第二部分）CMOS电路（第一部分）

一符合国家标准（第0部分）

金属圆形封装(第四部分)

0～70℃（第三部分）

通用型运算放大器（第二部分）线性放大器（第一部分）

符合国家标准（第0部分)

附加说明：

G 3430—89

本标准由全国集成电路标准化分技术委员会据山。本标准由机械电子工业部第四研究所负贵起草。本标准于1982年12月次发布，1989年3月第1次修订。