检测项目

浮法玻璃成分检测涵盖以下核心指标:

基础氧化物:二氧化硅(SiO₂)含量68%-75%,氧化钠(Na₂O)12%-15%,氧化钙(CaO)6%-10%

改性添加剂:氧化镁(MgO)≤5.0%,氧化铝(Al₂O₃)0.5%-2.5%

微量杂质:三氧化二铁(Fe₂O₃)≤0.15%,硫化物(以SO₃计)≤0.3%

特殊功能组分:Low-E玻璃中银层厚度、光伏玻璃中铈元素含量

检测范围

本检测体系适用于以下产品类别:

产品类型厚度范围(mm)特殊要求
普通平板浮法玻璃2-25符合GB 11614-2022建筑级标准
超白浮法玻璃3-19Fe₂O₃≤0.015%
汽车级浮法玻璃1.6-6NiS杂质控制≤3ppm
Low-E镀膜玻璃4-12银层厚度10-50nm
光伏压延玻璃2.0-3.2透光率≥93.5%

检测方法

X射线荧光光谱法(XRF)

依据GB/T 36240-2018标准,采用波长色散型光谱仪测定Si、Na、Ca等主量元素。粉末压片法制样时需控制粒度≤75μm,熔融法制样采用四硼酸锂熔剂(1:10稀释比)。校准曲线需包含至少5个标准物质点。

电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)

按ISO 21029-1:2018要求处理样品:称取0.5g试样经氢氟酸-硝酸混合酸消解后定容至50ml。分析谱线选择CaⅡ317.933nm、MgⅡ279.553nm等敏感线。

原子吸收光谱法(AAS)

测定K、Fe等微量元素时采用空气-乙炔火焰原子化器:铁元素使用248.3nm波长,检出限达0.02μg/mL。标准加入法消除基体干扰。

热重分析法(TGA)

在氮气氛围下以10℃/min升温至1000℃,通过失重曲线分析碳酸盐分解温度及CO₂释放量。

检测仪器

波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)

配备Rh靶X光管(4kW),晶体分析器包含LiF200、PET等5种分光晶体

全谱直读ICP光谱仪

中阶梯光栅系统搭配CID探测器,雾化器流量控制在0.7L/min±5%

石墨炉原子吸收光谱仪(GFAAS)

配备横向加热石墨管,塞曼背景校正系统可消除99.7%背景干扰

同步热分析仪(STA)

TGA-DSC联用系统,温度精度±0.1℃,称量分辨率0.1μg

激光剥蚀系统(LA-ICP-MS)

193nm准分子激光器配合四级杆质谱仪,空间分辨率达10μm

检测服务流程

确认测试对象及项目:根据要求确认测试对象并进行初步检查,安排样品寄送或上门采样;

制定与确认实验方案:制定实验方案并与委托方,确认验证方案的可行性和有效性;

签署委托书与支付:签署委托书,明确测试细节,确定测试费用并支付;

执行与监控实验测试:严格按照实验方案执行测试,记录数据,进行必要的控制和调整;

数据分析与出具报告:分析数据并进行归纳,撰写并审核测试报告,出具报告,并反馈结果给委托方。

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