硅材料金属杂质ICP法检测

• 检测项目钠、铝、铁、铜、镍、铬、锌、锰、钴、钛、钒、钼、钨、银、镉、锡、铅、锑、铋、砷、汞、金、铂、钯、铑、铱、钌、镓、铟、锗、铪、钽、铌、镧系元素总量检测范围单晶硅片、多晶硅锭、太阳能级硅料、电子级多晶硅棒、硅外延片、抛光硅片、刻蚀硅片、扩散硅片、离子注入硅片、Czochralski单晶硅、区熔单晶硅、硅纳米线、硅基薄膜材料、硅碳复合材料、硅铝合金材料、硅溶胶制品、有机硅聚合物原料液、气相沉积硅粉体、溅射靶材用高纯硅块体材料检测方法1.ICP-MS法：采用四级杆质谱系统测定0.01-1000μg/kg浓

实验室:
其他检测
试验周期:
7-10个工作日
发布时间:
2025-05-30 17:00:34
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