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根据标准《SJ 20636-1997 IC用大直径薄硅片的氧、碳含量微区试验方法》，该标准主要涉及的内容如下：
检测项目：该标准中提到的检测方法主要包括以下几种：
此标准涉及的产品主要是大直径薄硅片，用于集成电路（IC）的制造中。这些硅片被广泛应用于半导体行业，用以保证IC产品的质量和效果。
通过这些检测项目和方法，能够有效地保证产品的纯净度和品质，确保硅片在IC制造过程中的稳定性和可靠性。
标准名：IC用大直径薄硅片的氧、碳含量微区试验方法
标准号：SJ 20636-1997
标准类别：电子行业标准(SJ)
发布日期：1997-06-17
实施日期：1997-10-01
标准状态：现行
拥有化学、材料、机械物理、可靠性、生物医药、微生物、化妆品功效评价等多个专业实验室。
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