标准中涉及的相关检测项目

检测项目

• 外观检查：确保模块没有明显的物理损伤。
• 电气性能测试：包括插入损耗、驻波比、相位精度等。
• 环境适应性测试：如温度循环、湿热试验等。
• 机械性能测试：震动和冲击测试等。
• 可靠性测试：长时间工作性能和稳定性测试。

检测方法

• 使用矢量网络分析仪进行电气性能测试。
• 通过环境试验箱进行温度循环和湿热试验。
• 利用振动台和冲击台进行机械性能测试。
• 用专用测试治具进行可靠性测试，以模拟长期工作条件。

涉及产品

• 相控阵雷达的T/R组件。
• 数字式波束控制器模块。
• 其他相关的雷达电子模块和组件。

以上内容是关于标准中检测项目、检测方法以及涉及产品的简要描述，具体细节应查阅标准文本以获取更全面的信息。

SJ 20683-1998 相控阵雷达T/R组件数字式波束控制器模块通用规范的基本信息

标准名：相控阵雷达T/R组件数字式波束控制器模块通用规范

标准号：SJ 20683-1998

标准类别：电子行业标准(SJ)

发布日期：1998-03-18

实施日期：1998-05-01

标准状态：现行

SJ 20683-1998 相控阵雷达T/R组件数字式波束控制器模块通用规范的简介

SJ20683-1998相控阵雷达T/R组件数字式波束控制器模块通用规范SJ20683-1998

SJ 20683-1998 相控阵雷达T/R组件数字式波束控制器模块通用规范的部分内容

中华人民共和国电子行业军用标准FL5963

SJ20683-1998

相控阵雷达T/R组件数字式波

束控制器模块通用规范

General specification of digital beam controller moduleofT/Rmoduleforphasedarrayradan1998-03-18发布

1998-05-01实施

中华人民共和国电子工业部批准1范围

引用文件

质量保证规定

交货准备

6说明事项

附录A测试用模拟负载（参考件）自次

iKAoNrKAca

中华人民共和国电子行业军用标准相控阵雷达T/R组件数字式波束控制器模块通用规范

General specification for digital beamcontroller module of T/R module for phased array radar1范围

1.1主题内容

SJ206831998

本规范规定了相控阵雷达T/R组件用的数字式波束控制器（以下简称波控器）模块的分类、要求、质盘保证规定等。1.2适用范围

本规范适用于采用可编程逻辑器件的波控器模块。1.3分类

波控器模块按驱动器输出路数分为8、12、16、20路：按驱动形式分为双向导通型（A型）和单向导通型（B型）：按使用环境分为地面及舰船用（I类）和机载用（Ⅱ类）。2 引用文件

GJB150.3---86军用设备环境试验方法高温试验GJB150.4—86军用设备环境试验方法低温试验GJB179A—96计数抽样检查程序及表GJB360A--96电子及电气元件试验方法GJB89990可靠性鉴定和验收试验GJB1182—91防护包装和装箱等级GJB1765—93军用物资包装标志

GJB2711-96军用运输包装试验方法中华人民共和国电子工业部1999-03-18发布1998-05-01实施

3要求

3.1合格鉴定

SJ 20683—1998

按本规范提交的产品应是经鉴定合格或定型批准的产品。3.2模块组成和性能特性（见4.7.3～4.7.6）波控器模块划分及其性能特性见表1，模块组成及原理框图见图1。表1

驱动器输出路数

最大驱动电流

截止电压

建文时间us

转发输出路数

转发输出电平

转发延时ns

电源电压

输入路数

输入电平

静态功耗W

MBC8A MBC8B|MBC12A|MBC12B|MBC16A|MBC16B MBC20A/MBC20B8

80（输出电压不低于-4.2V）

iiikAoNirkAca

3.3模块外形和安装尺寸

SJ20683--1998

驱动器输出

（分别至移相器、T/R开关、衰减器等）波

控制逻辑

自波控计算机

除另有规定外，模块外形和安装尺寸见图2和表2。2

转发输出

（至其它T/R组件）

4 -Φ25

MBC12BMBCI6AMBC16BMBC20AMBC20BMBC8B

MBC12A

3.4可靠性

SJ20683—1998

波控器模块的平均故障间隔时间（MTBF）由产品规范规定，但不得小于100000h，3.5环境适应性

3.5.1低温赔存

波控器模块应能承受-55°C的低温贮存条件。3. 5. 2低温工作

I类波控器模块在-40°℃低温条件下应能正常工作：II类波控器模块在~55°C低温条件下应能正常工作：3.5.3离温贮存

波控器模块应能承受70°℃的高温贮存条件。3.5.4 高温工作

波控器模块在85C商温条件下应能正常工作3.5.5温度冲击

I类波控器模块在-55°C～85°C的温度冲击底应能正常工作。3.5.6低气压

II类波控器模块在4.39kPa的低气压条件下应能正常T.作。3.5.7湿热

波控器模块在经受40C，相对湿度93%的稳态湿热试验后，应能正常工作。3.5.8振动

I类波控器模块在经受10~500Hz、加速度100m/s2的振动试验后，不应出现机械损仿，并能正常工作。

I类波控器模块在经受10～2000Hz、加速度100m/s2的振动试验后，不应出现机械损伤，并能正常工作。

3.5.9冲击

波控器模块在经受加速度为300m/s2、脉冲持续时间为11ms的半正弦波冲击试验后，不应出现机械损伤，并能正常工作。3.6接口和互换性

3.6.1输入/输出连接器采用CH87—2.54—50ZM型印制板连接器。3.6.2输入指令为TTL电平，输入路数见表1。3.6.3型号及逻辑功能相同的波控器模块，不需调整即能互换：型号相同而逻辑功能不同的模块，在重新编程后即能互换。3.7标志和代号

模块上应标志模块型号和代号：-4-

KANKAca

模块代号组成如下；

SJ 20683—1998

改进序号（用人写字母表示）

使用环境类别（见1.3）

单向或双向导通型（见1.3）

驱动路数

波控器模块

例：驱动器输出路数为8，单向导通型使用环境为机载条件第一次改进的波控器模块表示为：MBC—08—B—I—1。3.8外观质量

3.8.1印制板表面应无大于0.08mm的气泡及目测可见的白斑、分层现象。3.8.2外观应清洁、无污痕及残余焊剂，字符、标志清晰。4质量保证规定

4. 1检验责任

除合同或订单中另有规定，承制方应负贡完成本规范规定的所有检验。必要时，订购方或上级鉴定机构有权对本规范所述的任一检验项目进行检查。4.1.1合格责任

所有产品必须符合规范第3章和第5章的所有要求。本规范中规定的检验应成为承制方整个检验体系或质量大纲的一个组成部分。若合同中包括本规范未规定的检验要求，承制方还应保证所提交验收的产品符合合同要求。质量一致性抽样不允许提交明知有缺陷的产品，也不能要求订购方接收有缺陷的产品。4.2检验分类

本规范规定的检验分为：

a.鉴定检验；

b.质最一致性检验。

4.3检验条件

，除另有规定外，啦在GJB360A规定的“试验的标准大气条件”下进行检验：b.所有测试仪器和设备都应经检定，并在检定有效期内：其准确度应不低于被测参数允许误差的三分之一。

4,4鉴定检验

鉴定检验一般只在设计定型和生产定型时进行，但在模块的主要设计、T艺，元器性及材料有重大改变而影响模块的主要性能时，也应进行鉴定检验，- 5 -

4.4.1检验样品

SJ 20683-1998

鉴定捡验的样品应是在生产中用通赏的设各和I艺所生产的模决。样品数量由产品规范规定，但不得小于两件。4.4.2检验项目和顺序

鉴定检验的项目见表3。检验顺序由产品规范规定。4.4.3合格判据

当所有检验项目均满足第3章和第5章要求时，则判为鉴定检验合格：如果任何一个检验项目不符合规定的要求，则应停止检验，承制方应对不合格的项目进行分析，找出缺陷原因并采取纠正措施后可继续进行检验，若所有检验项目都符合规定要求，则判鉴定检验合格，若继续检验仍有某个项目不符合规定的要求，则判为鉴定检验不合格。

4.4.4鉴定合格资格的保持

为保持鉴定检验的合格资格，承制方应按订购方或鉴定机构的要求，定期提供产品的试验资料，提交频次由产品规范规定。4.5质量致性检验

4.5.1检验分组

质量一致性检验分为A、C、D三组。4. 5. 2 A 组检验

4. 5.2. 1检验项目

A组检验的检验项目见表3.

4.5.2.2合格判据

A组检验采用遂件检验逐件判定。各检验项目中出现一个不合格项日，即为不合格。

不合格品可以返修以纠正其缺陷，并重新提交复验。-6-

TKANKAca

项日名称

标志及外观质遣

外形和安装尺寸

最大驱动电流

截止电压

建文时间

转发延时

静态功耗

温度冲击

低气压

司靠性

接口和互换性

SJ20683--1998

要求的

章条号

3.7、 3.8

3.5.1,3.5.2

3.5.3,3.5.4

5.1、5.2.1

检验和试验

方法的意条号

注：表中“O”表示必做项目，“△”表示根据需要确定的检验项目4.5.3C组检验

4.5.3.1检验周期

下述情况下应进行C组检验：

a：批量生产时每年进行一次：

b，元件，材料或工艺有重大修改，影响其性能时：c.订购合同有明确要求时。

一致性检验

4.5.3.2抽样

SJ 206B3—1998

C组检验的样品，应在A组检验合格的产品中随机抽取。除另有规定外，抽样按GJB179A的一次正常检验抽样特殊检验水平S一2，AQL值由产品规范规定。4.5.3.3检验项目和顾序

C组检验项目见表3。检验顺序由产品规范规定。4.5.3.4合格判据

根据检验结果，若缺陷数不大于规定值，卿判C组检验合格，否则，判C组检验不合格。

4. 5. 4D 组检验

4.5.4.1检验周期

D组检验在订购合同有规定时进行。4.5.4.2抽样

按合同相应规定确定抽样方案。4.5.4.3检验项目

D 组检验项且见表 3。

4.5.4.4合格判据

合格判据根据试验方案和合问有关规定确定。4.5.5不合格

如果样品未通过C组或D组检验，则应停止产品的验收和交付。承制方应将不合格情况通知合格鉴定单位。在采取纠正措施之后，应根据合格鉴定单位的意见，重新进行全部试验，或只对不合格的项目进行检验。若试验仍不合格，则应将不合格的情况通知合格鉴定单位。

4.6包装检验

4.6.1每一包装件，都应按4.7.15.1检查包封、装箱和包装标志。遂件检查，逐件判决。

4.6.2包装鉴定时或包装结构、材料有重大改进时，应抽取一箱（盒）模块，按4.7.15.2进行包装跌落试验。

4.7检验方法

4.7.1标志及外观质量

目测法检查标志及外观质量，必要时可用测量显微镜检查印制板中的气泡。4.7.2外形和安装尺寸

用量具检验外形和安装尺寸。

4.7.3最大驱动电流

KANKAca

SJ20683-1998

用设计评审的方法捡查输入路数、转发输出路数电路电压。4.7.3.1测试系统图

测试系统图见图3。

接口卡

4.7.3.2测试设备及其要求

被测模块

a．PC机：模拟雷达波束控制计算机指令；电源

b.接口卡：专用测试接口卡，根据微机输出指令，产生波控器控制信号：c.转换开关S：路数不少于被测模块驱动输出路数：d.电源：电压应符合表1规定，负载稳定度租电压稳定度优于1x102，纹波不人于80mV：

电流表：数字式电流表，推确度不低于0.5级：e.

f．负载：测试用模拟负载，见附录A（参考件）。4.7.3.3测试步骤

按图3连接，转换开关接被测模块各驱动输出端：a.

b.PC机产生模块测试所需的时序，避过接口卡加至被测模快；转动转换开关分别测出各路驱动输出的电流。c.

4.7.4建立时间和截止电乐

4.7.4.1测试系统图

测试系统图见图4。

接口卡

被测模块

双踪示波器

4.7.4.2测试设备及其要求

a.PC 机：见 4.7.3.2a:

b．接口卡：见4.7.3.2b；

C.转换开关S：见4.7.3.2c:

d.电源：见4.7.3.2d;

SJ 20683—1998

双踪示波器：带宽不小于100MHz;e.

f.负载：见4.7.3.2f

4.7. 4. 3潮试步骤

按图4连接，转换开关分别接被测模块各驱动输出端a.

PC机产生模块测试所需时序，通过接口卡加至被测模块：b.

调节双踪示波器，分别测出驱动输出相对于输入的上升延时，和下降延时（现图5），取1，和（,中较大者为建立时间测试值：d.对单向导通型模块，从双踪示波器中读出截止电压U（见图5b)；e。利用转换开关分别测出各路驱动输出的建立时间和截止电压。4.7.5转发延时

4.7.5.1测试系统图

测试系统图见图 4。

4.7.5.2测试设备及其要求

测试设备及其要求见4.7.4.2。

4.7.5.3测试步骤

转换开关接被测模块的各转发输出端，其余测试步骤与4.7.4.3相同，示波器上波形见图6。取t,和中较大者为转发延时测试值。 10 -

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