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检测项目：
标准主要关注碲镉汞晶体中痕量元素的含量检测，不过具体涉及的痕量元素需要查阅标准的具体内容以获取详细列表。这些元素通常包括但不限于杂质元素，如Fe、Cu、Ni等。
检测方法：
**电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-AES）**：常用于检测低浓度的痕量金属元素。
**原子吸收光谱法（AAS）**：用于定量测定金属元素，通过测量气态原子对特定波长光的吸收。
其他可能的检测技术：依具体的痕量元素而定，可能会涉及X射线荧光光谱等方法。
涉及产品：
该标准主要适用于碲镉汞（HgCdTe）晶体，用于红外探测器等半导体材料中。这些材料广泛用于军事、航天、遥感以及科学仪器中。
任何对该标准的详细内容进行操作或技术应用建议直接查阅标准文本，以确保准确性和全面性。
标准名：碲镉汞晶体中痕量元素的测定方法
标准号：SJ 20718-1998
标准类别：电子行业标准(SJ)
发布日期：1998-03-18
实施日期：1998-05-01
标准状态：现行
拥有化学、材料、机械物理、可靠性、生物医药、微生物、化妆品功效评价等多个专业实验室。
