标准中涉及的相关检测项目

标准《GB 5594.4-1985》是关于电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法中介质损耗角正切值的测试方法的相关文档。该标准涉及的内容通常包括以下几个方面：

检测项目：
  • 介质损耗角正切值的测量。
  • 陶瓷材料电性能的评价。
检测方法：
  • 高频电桥法：使用高频电桥设备测量材料的介质损耗角。
  • 振荡器法：通过振荡电路测量材料的损耗角正切值。

具体的测试方法会按照标准中的技术要求进行，以确保数据的准确性和可靠性。

涉及产品：
  • 电子元器件中使用的结构陶瓷材料。
  • 高频电路应用中的陶瓷电容器和绝缘体。
  • 其他需要评估介质损耗的电子材料产品。

这些方法通常用于评估陶瓷材料在高频应用环境下的性能，以确保材料在特定应用中的可靠性和效率。

GB 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法的基本信息

标准名：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法

标准号：GB 5594.4-1985

标准类别：国家标准(GB)

发布日期：1985-11-27

实施日期：1986-12-01

标准状态：现行

GB 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法的简介

GB 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法的部分内容

现行

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