标准中涉及的相关检测项目

标准《GB/T 16465-1996 膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用能力批准程序)》是关于膜集成电路和混合膜集成电路的质量标准。该标准主要包括以下几个方面的检测项目、检测方法以及涉及的产品。

• 电性能测试，包括电压、电流、频率等参数的测定。
• 环境试验，如温度、湿度、振动测试等，以评估在不同环境下的性能稳定性。
• 物理性能测试，包括热膨胀系数、机械强度等。
• 封装密封性测试，以确保没有外部环境气体进入内部、影响电路性能。
• 可靠性测试，例如老化试验，评估产品在长期使用中的稳定性与耐久性。

• 采用标准电气测量仪器进行的一系列电性能测试，包括使用万用表、示波器等。
• 使用环境测试机台以进行高温、高压模拟实验来检测其耐环境性。
• 物理试验中通常使用机械性能测试设备，如拉力试验机。
• 封装测试经常利用泄漏检测设备来确保其密封性。
• 老化试验通常使用老化箱通过特定的加速老化程序进行测试。

• 薄膜电路，如金属薄膜电阻、薄膜电容。
• 混合膜集成电路，结合多个功能的集成电路。
• 用于特定功能模块的定制膜电路，例如微波功能模块。

这份标准非常注重产品的综合性能和长期可靠性，确保满足应用要求。

GB/T 16465-1996 膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用能力批准程序)的基本信息

标准名：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用能力批准程序)

标准号：GB/T 16465-1996

标准类别：国家标准(GB)

发布日期：1996-07-09

实施日期：1997-01-01

标准状态：现行

GB/T 16465-1996 膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用能力批准程序)的简介

本规范适用于采用能力批准程序评定质量的膜集成电路和混合膜集成电路，包括产品目录上的电路和定制电路。GB/T16465-1996膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用能力批准程序)GB/T16465-1996

GB/T 16465-1996 膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用能力批准程序)的部分内容

中华人民共和国国家标准

膜集成电路和混合膜集成电路分规范（采用能力批准程序）

Sectional specification for film integrated circuitsand hyhrid film integrated circufits on the basis of thecapability approval proeduresCB/T 16465-1996

IEC 748-221992

QC760200

本规范等同采用回际标准IEC748-22/QC760200（1992)《膜集成电路和混合膜集成电路分规范【采用能力批准程序）》。

1范围和自的

1.1范围

本规范适用于采用能力批准程序评定质量的膜集成电路和混合膜集成电路，包括产品目录1的电路和定制电路。

1.2自的

本规范的月的是提供优先的额定值和特性值，从总规范中选择合适的试验和测显方法，并为根据本规范制定的膜集成电路和混合膜集成电路详细规范规定总的性能要求。优先值的概念适用于月录电路，而不适用于定制电路。参照本分规范制定的详细规范，其规定的试验严酷度和要求应等于或高于分规范的性能水平，比其低的水平是不允诈的。

同本规范占接相关的是具有IEC或国家编号的空立详细规范。按照本规范2.3条的舰定填写空白详细规范，即构成详细规范。应旧这些详细规范授了成品电路的能力批推时.应遵照制造厂能力细则中规的能力范围，并且应按能力认证体系的规定进行能力批准继持。2总则、优先特性、额定值和环境（包括机械）试验严酷度2.1有关文件

GB/T8976-1996膜集成电路和混合膜集成电路总规范GB/T16466—1996膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范（采用能力批准程序）2.2优先额定值和特性

电压和电流的优先值在IEC:747-1中给出：电阻器利电容器的优先值准GB/T2471中给出；定制也路可以选择任意的利误差木规范规定的电路其气候类别接照SJ/Z9001.1的规定分类。低温和高温试验的严醋度分别是较低和较高的温度类别。山丁某些电路的结构特点，这些温度可能出在SJ/Z9001.2和SJ/Z9001.3中给出的两个优先温度之问，在这种情况下，应选择最接近电路实际溢度的优先值。2.3详细规范应规定的内容

详细规范应根据有关空自详细规范制定国家技术监督局1996-07-09批准1997-01-01实施

GR/T16465—1996

详细规范规定的严酷度应不低下总规范或分规范规定的严酷度，若需要史严挤的要求时，应列入详细规范，并在试验表中用“星号\标出。注：为了方便起见,尺寸,特唑和额定值的数据可以采用表格形式给出每个详细规范应规定以下内容，引用值应优先从本分现范适用的条款中选择。每个详细规范应规定逐批检验所要求的各项试验和测量。至少要包括本规范中给山的有关试验其方法和严酷度。

能力鉴定电路(CQCs)的详细规范应包括的环境试验（包括机械试验）、测量，严酷度和周期试验的终点极限值，并应合总规范和本规范的规定。2.3.1外形图和尺寸

电路应具有外形图，以便容易识别，并同其他电璐比较。详细规范应规定那些影响互换性和安装尺寸及其相关的偏差。所有尺寸用毫米(mm)为单位表示。般情况下，应给出壳体的长，宽和高以及引出端问距的数值；对于圆柱形应给出壳体的直径，长度和引端的直径。

当需要时,例如当-个详细规范含有一种以F:的装时,尺寸及其相关的偏差应在图下的-个表中刻出.

当其结构与上述不同时，详细规范成规定那些能充分述止踏外形的尺上数据2.3.2安装

详细规范应规定带规使用时以及在振动.碰撞或冲击试验时所用的安装方法，在电路使用中有时要求电路段计有特殊的安装爽具。在这种情况下，详细现范成规是安装爽具，并日在进行振动、碰撞或冲击试验时应使用这些夹具。

2.3.3怀境（包括机)试验严酷度详细规范应规定从GB/T8976--1995第4章选择合适的试验方法和严酷度。2.3.4标志

详细规范应规定准电路和外包装上的标志内容。与GB汀8976一1996中2.6条不--致处度该明确指山

2.3.5订货资料

详细规范应规定订购电路时所要求的下述资料：1）电路类型(例如，混合厚膜集成电路)；2）详细规范豹编号以及品种代号和评是水平（适用时）：3）电路功能（适用时)

4）基本功能特性皮其偏差（适用时)。2.3.6随加资料（不作验用）

详细规范可以包括通常不要求按检验程序验证的资料，如为了便于说明所需要的心路图、曲线、图形和注释等。

3能力批准程序

见 GB/T 8976--1996 中 3. 6 条和以下规定。3.1能力鉴定电路（CQC5)的选择3. 1. 1用下批推试验的 CQCs应来源于下述电路：1)为鉴定设计规则工艺和,产品而设计的专用电路；和(或)

2）将售给用的电路。

这些CQC连同工.艺试验样品应足以评定所有的设计规则材料和制造工艺，包括任何转包工2、GB/T16465—1996

用于评定的膜元件利外贴元件的端口应便于进行单独的电测量，而不受其他电路元件的影响。3.1.2CQCs用十完成催力批准和周期试验中舰定的试验项日，从而向国家监督检查机构(NS1)证明设计布局极限：

1）达到了单个膜元件所要求的性能指标+2）满足预定要交货电路的坏境被限；3）满足能力细则和详细规范巾的电功能和电性能要求。3.1.3已经按照GB/11498股集成电路和混合膜集成电路分规范（来用整定批准序）获得鉴定批准的电路，接照有关的结构相似要求，征得VSI同意，也可以作为CQCs（只要已满足3.1.1的要求），用亲进行能力批准

3.1.4已经获得能力批准的制造厂所生产的任何电路如果通过GB/T11498中规定的相应试验·也可获得鉴定批推。

3.1.5采用定制电路作为CQCs的制造厂可以根据生产方案更改试验电路的类型。在这情况下，CQCs可能无法满足评定所有能力极限的要求，但它至少应能代表现行的能力批雅在维持期间所放行的电路。

制造厂选择的 CQCs成符合 NSI的要求。3.1.6当加工件在共用工序例如包封)之后分戒凡道工序.则这一共用工艺叫以用其中任一单独样品来评定。

3.1.7如果制造厂对所有电路进行筛选,则可以按正常的生产下艺，使用筛选过的 CQCs进行能力准。

如果制造！“的初始筛选通常不进行，或者是任意选择的，则可用未筛选过的电路进行能力批准，3.2结构相似性

1）CQCs应面制造广的总检验长莱选摔，并在实薄能力批准方案之前得到NSE同意，2）本规范附录A给出了进行试验、尺小检验和环境（包括机械）试验的成品电路分组的结构相似规则。

3）这些规则应作为抵准时选择样品的依据，也用来确定新电路是在现行的批准能力之内，还是需要扩凝能力极限以求得放行。

1）对某试验分纠而言，如果CQCs是结构相似的，则可以组合在-起满足试验表中要求的数量：每个试验分组都有它自已的结树相似规则和判据（见附录A）3.3能方批摊

3.3.1（GB/T89761906中3.6条给出的能小批准程序采用CQC进行能力批雅的试验表和质量·致性检验（逐批和周期试验的试验表共同规定了对成品电路的最少试验方案。

制造单位可以自愿选择采用的评定水平K,L或M,似获得能力批准的制造单位仅能按以下规定放行产品：

评定水平

放行评旋水

注：如灵需要表示未签定的元件，明以使用片缓\N\（则GB/T89761996中3.6.2.3条），制造单位可以按GB/T8976给出的程序来提高其已经批准的评定水平+如果直到试验间隔期满为止，仍未进行新的维持试验，则应降级。以工两种情况都要通知VSI。对于特定的应用所需的附加试验，应在详细规范中规定，并得到用户和制造单位双方同意。有关环境试验后电性能极限值应在详细规范中规定。GB/T 16465-1996

3.3.2月组试验完成前的产品交货放行对十生产批量较小的电路，若检验批的收集需娶延长时闻，征得用户的同意后，只要先前同样的电路通过了B组试验,制造厂可以在B组试验前放行产品。在这种情况下，制造厂应作有关的放行文件上清楚地标明所放行的电路是按照本规范3.3.2条放行的,并在放行后一个月内完成试验。如果随后进行的B组试验失效，则根据失效的原因，或者收回先前已经放行的产品，或者停止故行。

3.3.3能力批准（固定伴本人小程序)3. 3. 3. 1抽样

群本大小及合格判定数取决于所规定的评定水平,并在表2中详细规定。当试验表中引进附加组时，“0\组要求的电路数也应增加，增加的数量等于随加组所要求的数量。3. 3.3.2试验

表1规定了对所有CQs和工艺试验样品进行试验的内容，以考核设计规则、材料、工艺、零部件和封装

对-于每个试验组不同的CQCs可以根据附录A中规定的结构相似规则组合在一起，以达到该试验组对样品数的要求。

表1中的系列完整试验是为批准能力细则中规定的能力极限而规定的。每组试验都应按给定顺序完成。

样本应经受\0\组试验，然后分到其他各组。“0”组试验不合格的电路不能再用十其他组。当个CQC不能满足一个组的全部或部分试验时，就计为“一个不合格品\。如不合格数未超过每组（或分组）规定的允许不合格品数，并且总的不合格品数末超过规定的允许不合格品数时，卿予以批准。

表1能力批推的试验表

样本人小和合格判定数在表2中按评定水平规定。条款号引自总规范第4章。

条款号、试验和试验顺序

01分组

4. 3,1封盖能的司检

02a分组

4.3.2外部口检和标志检套

02b分组

4. 3. 3 尺寸

03分组”

4.5.1h易燃性(仅供参考)

分组\

A.5.9密封

95分组

4.+.11室温下主要静态和动态电特D/Nn

试验条件

性能要求

茶款号，试验和试验顺序

4. 4. 11极限工作温度下主要静态利动态电特性

1组“序

祈始测量

45,6振动（打频）

4.5.7恒定加速度

4. 5. 5 种击

1.%.7报定加速度

最谢量

2年顺序

初始视量

4. 5. 11耐焊接热

1.5.15.2除溶剂性”

4.5.8温度变化

4.5.3稳态湿热*

最后测

3组顺序

4.5.1可焊性

4.5.12.1拉力

4.5.12.3弯函（间线或带状引线）最后测量

.5.10可焊性

4. 5. 12.1 拉力

4.5.12.3弯曲【整择】

2.5.12.2推力

最后测量

组顺序

初始测世

GB/T 16465—1996

续表1

试验条件

4.4.11r05分组

4.5.9t密封

4.4.11:C5分组

4.4.11:05分组

4.5. 9:封11

4.4.11:05分维

4.3.2外部目检和标志检

4.5.9密封

1.5.9:密封1

4. 4. 11:05分纳

性能要求

条款号,试验和试验顺序

4.5.2低温

4. 5. 1 高润些有

韧始测量

4.5.34耐久性：10001

尚久性：2000ha

最后量

江：1）仅对空封息路：

2）安装条件按细规范规定；

3>按送细规范规是选择：

CB/T 16465-1996

续表1

41对非密封电路详细规范可以略去湿热试验：5）允许偿经过全部加工后的电性能不合络品：6) 对下评定水平K:1 000 lh 后,哲时批准2000 h后，正式批举，

7）适用于有机材料密均的产品：8）效 CQCs不性要求。

3.3.4能力批推的维持

3.3.4.1筛造和逐批接收试验

漏度：

温度：

试验条件

4. 4. 11:05分组

4.4.11:05分组

.4.11:05分组

对所有欲向旧户放行的电路，筛选和逐批试验按空白详细规范表2的规定，性能要求

对于A组和组试验检验批应收口同一周内的品.或者是出制造厂规定的最长不超过-个月的其他周期内的产品。

3.3.4.2周期试验

CQC的期试验按详细规范表3利空亡详细规范的规定当定制出路用作CQCx时,则周期试验样品应从已通过筛选试验(适用时)和逐批检验的检验批中抽取，

耐久性试验 1 000 h后川授予暂时能力批准。3.3.4.3试验

空白详细规范成规定能力批准维持所需要的全部试验。每组试验成按规定的颁序进行

个出路不能满足组试验的全部或部分试鲶时，则让为“个不合豁品”如不合格品数未超过该组（或分组）规定的允许不合格品数，或者总的不合格品数未超过规定的允许不合格品数，则可以维持批准。3.3.5特殊要求

小批堇产品——尚在考虑中。

3.3.6 质重一效性试验

3.3.6.1试验程序表

质量一致性检验的遂批和周期试验程序表在空白详细规范的表2和表3中给出。3.3.6.2评定水

能力批准（见表1)和能力批推维持（见有关空门详细规艳)的评定水平应从表2和表3中选择。GB/T 16465-1996

表2用于首次能力批准的评定水平和合格判定数表中:n—样本大小;

合格判定数（允许不合格品数）。表」的检验纫或

C3（仅供参考）

5(1coo b)

(2 600 h)

评定水平

注：1）当不要求作】组试验时，此电路数口可减抗那些不需要的和应的电路数。2）对每种规定的溶剂最少试验4快电路、2

表3用于质量致性检验的评定水平和合格判定数（见表3.A和表3B）表34以抽样为基础所进行的逐推试验表中，.检查水平

AQL—-合格质量水平

条款号引白总规范第4章。

检龄纽或分组

筛选（见表4)

Al分组

4.3.2外部目检和标忘检查

A2分组

4.1.11室温下的主要静态知动态电特性A3分组

A..11极限工作温度下的土要挣态和动态电持性131分组

4.5.10可焊

B2分组

4.3.3尺寸

评水平

不要求

不要求

表中：——周期(月);

\—样本大小

GB/T16465-1996

3B以抽样为基础所进行的周期试验合格判定数（允许不合格品数）。条款导引自总规范第4章。

详定水平

检纠战分纠

C分组”

1. 4. 11摄限工作据度下的主

要静态和动态电特性

C2分经，顺序-

4.56报动(扫频)和

4.5.7追定加速度

4.5.5冲击和

4.6.7抵定加速度

C3分丝顺序

4.5.11耐焊接热

4. 3. 15.2性济剂性\

4.3.8温度变化

4.5.3稳态湿热1

C分顺宁

4.5.2低温

4.5.1高温忙存

T>1分组

4.5.14前久性：

132分组，顺序

4.5.12.1拉方

4. 5.12.3弯曲(匾引线或扇引1

4. 5. 12. 1 拉少

4.5.22.3弯曲（排）

4. 5. 12. 2推力

4.6.16易燃性\

（仅生参号）

本表注间表|的注。

筛选顺序应按表4.

捡查或试验

封盖前的目抢

高湿忙存

温塑变化

恒定后速意

(老化前）

电洲望

（筛选后）

总规范条号

CB/T 16465—1996

表1筛选

详纸要求和条作

在考虑中

最高吧存温度下 21 h

10次循环

Tayuin :

在最严碍均方向上,加速变等级接详细规范规定选择参数

蝴除不合格品

按洋细规范规定

按步骤6的规定影除不合格品，如果不合格品数迅过0%，则拒妆该批

*除非详纽娩范中另有观定，一最不追用于非空兹电路！运：①除作详细规范中另有规定，应记录测量结果。16872

2;筛选毅左 A 组,已 组科 C 组检验前进行。当筛选在 A 组、B组和 C 组检验完减后进行时必频重作可归性、整封性刊A组试验。空白详细规范可以费求附加均筛选后试验。3.4拒牧批(逐批检验)的办提交

电气试验后的任何拒收批应退回到生产线，针对鉴别出的缺陷进行再加工或再筛选，在该批中不应该合有新电路。

然后，应将该批再提交并在加严捡验的条作下进行检验，该批应保持同的批导，并且记录再提交的细节，同一批的提交不应超过三次。3. 5非IEC 成员国中已批准的制遗「的制造！序如果符合GB/T 89761996 中 3.2 条的条件时+则对于本规范包括的膜集成电路和混合膜集成电路流吉，允许制造厂扩展其能力批准的范围。4试验和测量程序

本章氢括模集成心路和源合膜集成电路典型应用的所有试验和测量程序.而这些在GB/T8976-1996第 4章内没有规定。

每个详继规范应规定逐批试验剧期试验要求的所有试验和测尽程序，并儿最少应包括尽规范所给出的有关试验及规定的片法和严酷度：对于CQC的周期试验，其环境试验、测量、严酷度和终点被限值均应在详细规范中规定，并应符合总规范和本规范的规定。

GB/T 16465—1996

附录A

能力批准的结构相似规则

(补充件）

本附录规定了一种新电路是否包含于制造厂申报的能力以及CQCs所做的试验的判定规则.也可以用来指导制造厂如例选择包含一定能力的CQCs。41结构相似规则中的 CQCs的确定1）表A10和本现范中的表1以及空白详细规范中的表3配套使用，用于周期试验的电路应是生产线上在制电路的代表。已经根据总规范表1初步分类的电路，制造厂应根据本规范的表A1进一步对表征其能力的材料、工艺和基本技术进行分类。2）制造厂应针对其当前和以后的产品范围，对照表A2～表A7和表A10中规定的相似规则.审查其不致之处，以便从技术角度确定能力批准需要多少种不同类型的CQCs。3）对照衣A8和表A9审查CQCs的质量和尺寸极限值是否合适。除i)中提到的CQCs以外，可能还需要一些CQCs以包含这些方而的要求。4）在根据总规范第4章选择了适合的坏境试验严酷度后，可列表说明每种CQC所经受的试验和严酷度

5）如某电路与某CQC结构相似，则要求该电路的布线设计规则，电气和环境额定值以及电特性不应比CQCs更严格。

通常，CQCs从下述两种电路中选择：为包含务种电路的实际能力极限而专门设许的电路，它应使CQC的类型降到最少：一广泛应用的常规定制电路或产品目录上的电路。A2新电路

百先，对于每种将要制造的在本体系内放行和出售的新电路，应检查并保证其可以使用犯批准的设计规则、材料、工艺和封装形式制造。其次，应考虑其特性与现行CQCs的关系，即在材料和工艺（表A2～表A7)、质量和尺寸（表A8和丧A9），适用的试验和严酷度（表A10和总规范的第4章）这些方面，H特性应出1个或多·个（QC覆盖，

如果现行的CQCs不能覆盖新电路，而制造厂义希望放行.则制造」音光应根据总规范3.6.3.5条的规定扩展其能力。在这种情况下，可能要对CQC或新电路增加试验。A43程序指南

图1给出了A1 和 A2 所规定原则的实施指南，A3.1川丁能力批准的CQCs的选择和试验。CQ:s的选择

（见本规范3.1条）

能力恢表：

GB/T 16465-1996

将制造的电路

屯路的技术分类

见总规范表1

材料、工艺和技术

见本规范表A1

（A3)

外贴有源和洗源是件

质至和尺寸

环境试验

请求NSI批难的

计划和申诸

能力批准

电略的政

行和缔持

遵批试验

A3.2用于新电路的程序见图2。

(表AA5、A6)

【装A?】

（表AB.AS)

（10)

CQC试強大判

请求批准的申请

肯次能力批准

见本靓范衣2

离期试验

鉴定批准轻序

GB/T 16465—1996

新乌路

咨在能力范用内：

（与个或多个Qcs的续构相低性）六附求的表1~A10

能力扩程程序

（对新思路或（逃行补充试验）分证前（宋用鉴定批所

瑞>的表3A和表3B

不境花

长3和表3

本规范的表2A

设石附机试响

表A】技大、材料和［艺的分类

下表中给出了材料.工艺和技术的-些实例·并分别在表A2～表A7中只体说明.“表中所列项日本…定是完整的，并且不一定是横问一一对成的。项

(袋A2)

《AS)

a)功能元件

电阻器

电辉器

电感器

热敏电阻

光电学件

交艾线

源器件

基本技术

其木杜料

涂税金属

氧化饭

蓝宝行

元菱(水晶）

有机物

有机载体

铂-余

玻璃陶瓷

薄膜；

，离化凯氧化

镍、铲

基本T艺/片法

未铸/庭涎

火培越光

研瞬和糖光

旋职和烧结

蒋膜：

旋论(离心)

附效化