标准中涉及的相关检测项目

标准《GB/T 16864-1997 低温下晶体透射率的试验方法》主要阐述了在低温条件下对晶体材料的透射率进行测试的方法。以下是该标准中提到的相关检测项目、检测方法以及涉及的产品：

检测项目：
  • 晶体材料的透射率。
  • 不同温度条件对透射率的影响。
  • 材料的光学性能稳定性。
检测方法：
  • 使用分光光度计在低温环境下测量透射率。
  • 通过冷却装置将测试样品降温到所需温度范围。
  • 在不同波长和温度条件下对样品进行连续测量。
涉及产品：
  • 精密光学仪器中的光学晶体组件。
  • 低温条件下使用的光电材料。
  • 航天及国防领域所使用的镜头和传感器中的光学晶体。

该标准为涉及以上产品的企业提供了一个关于低温晶体透射率测试的重要参考，有助于确保产品在低温环境下的性能稳定和可靠。

GB/T 16864-1997 低温下晶体透射率的试验方法的基本信息

标准名：低温下晶体透射率的试验方法

标准号：GB/T 16864-1997

标准类别：国家标准(GB)

发布日期：1997-06-16

实施日期：1997-12-01

标准状态：现行

GB/T 16864-1997 低温下晶体透射率的试验方法的简介

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