标准中涉及的相关检测项目

根据标准《JB/T 5841-1991 ZH系列200A以上管壳额定高压整流二极管》,可以总结出以下内容:

相关的检测项目包括:

  • 外观检测: 检查二极管的物理外观是否符合标准要求,无明显缺陷。
  • 电气性能测试: 包括正向特性测试、反向特性测试、反向恢复特性测试等。
  • 温度特性测试: 确保二极管在不同温度条件下工作的稳定性和可靠性。
  • 机械强度测试: 验证二极管的机械强度和抗压性能。

检测方法主要包括:

  • 直流参数测试: 使用专用测试仪器进行正反向电压和电流测试。
  • 温度循环试验: 模拟二极管在不同温度下的工作状况,以检测其温度特性。
  • 振动试验: 检查二极管在振动环境下的物理完整性和电气性能。
  • 老化测试: 在额定条件下长时间通电,检测二极管性能的变化情况。

涉及的产品:

标准主要涉及ZH系列200A以上的管壳额定高压整流二极管,这类二极管广泛应用于工业电力整流、电动车变流装置等需要处理大电流的场合。

整体来说,标准《JB/T 5841-1991》通过一系列详细的检测项目和方法,确保相关高压整流二极管产品的质量和性能能够满足严格的工业应用需求。

JB/T 5841-1991 ZH系列200A以上管壳额定高压整流二极管的基本信息

标准名:ZH系列200A以上管壳额定高压整流二极管

标准号:JB/T 5841-1991

标准类别:机械行业标准(JB)

发布日期:1991-10-24

实施日期:1992-10-01

标准状态:现行

JB/T 5841-1991 ZH系列200A以上管壳额定高压整流二极管的简介

本标准规定了管壳额定高压整流二极管的极限值、特性值及其检验规则和依据。JB/T5841-1991ZH系列200A以上管壳额定高压整流二极管JB/T5841-1991

JB/T 5841-1991 ZH系列200A以上管壳额定高压整流二极管的部分内容

中华人民共和国机械行业标准

ZH系列200A以上管壳额定高压整流二极管主题内容与适用范围

本标准规定了管壳额定高压整流二极管的极限值、特性值及其检验规则和依据。本标准适用于ZH200、ZH500、ZH800和ZH1000型空腔封装高压整流二极管。引用标准

GB2900.32电工名调术语电力半导体器件GB4937

GB4938

ZBK46003

GB4024

3技术要求

3.1外形尺寸

半导体分立器件机械和气候试验方法半导体分立器件接收和可靠性

电力半导体器件用管壳

半导体器件反向阻断三极晶闸管的测试方法外形尺寸按ZBK46003中的ZL和ZT型。3.2极限值(绝对最大额定值)

3.2.1极限值按表1规定。

极限值

管壳温度

存温度

等效结温

反向重复峰值电压

反向不重复峰值电压

正向平均电流

单相正弦

波180°导通角,阻性负载

正向(不重复)浪涌电流

IF(AV)

机械电子工业部1991—10—24批准单

-40~116

-40~160

3200~6000

VRRM+200V(VRRM≤4200V),

VRRM+800V(VARM≥4600V)

JB584191

ZHI000

1992-10—01实施

极限值

安装力

安装力矩

JB5841--91

续表1

反向重复峰值电压VRRM按表2分级。3200

电特性

电特性按表3规定。

特性和条件

Tcase=25℃

(另有规定除外)

正向峰值电压

反向重复峰值电流

结温=25℃和150℃

结壳热阻

14,4~21,6

2.4或2.5

注:④在以下各组检验或试验中,结温150℃实蒙为150_℃。60

(最大值)

ZH1000

25.6~38.4

ZH1000

2.6或2.8

②电特性反向恢复电荷,本标准巾不给出。相当本标准中的器件,按GB4033测试,反向恢复电荷值约为10mq范围。

?正向峰值电压的两个值,小的对应VRRM≤4200V,大的对应VRRM>4200V,以下同。特性曲线(不作检验用)

在产品使用说明书中应给出下列特性曲线:a.

管壳温度与正向平均电流降额关系曲线,正向伏安特性曲线:

瞬态热阻抗与时间的关系曲线;浪涌电流与周波数的关系曲线和[t特性曲线;最大正向耗散功率与正向平均电流(导通负作参变量)的函数关系曲线。检验规则

逐批(A组)检验

A组检验按表4规定,所有检验都是非破坏性的。130

不工作

A2b正向峰值

反向量复

蜂值电流

见附录

B中B1

见附录

B中B2

JB5841—91

Tcase=25℃

(另有规定除外)

正常照明和

正常视力

按A2b

按A2b

结温=25℃和1150℃

检验要求

(最大值)

ZH1000

镀层无脱落

标志完整清晰,表面无损伤,

极性颠倒

>24或>26

2.4或2.6

注:①检验要求栏中的AQL(H)抽样见附录A中A1。②当要求附,正向峰值电压也可在结温150检验。60

>26或>28

2.6或2.8

如A组第一次提交检验不合格,可按附录A中A2加严一级重新提交检验,但只能重新提交一次。4.2

周期(B组)检验

B组检验按表5规定。正常生产的定型产品,每年至少应作一批B组检验。表5

温度变化

最后测

(漏)

正向峰值

反向重复

烽值电流

K46003

Tcase=25℃

(另有规定除外)

GB4937

两箱法,

-40,160℃

循环5次,每循

环高低温各置

1h,转移时间

3~4min

GB4937

加压氟油检漏

按A2b

按A2b

检验要求(最大值)

最大外形和安装尺寸符合规定

2.4或2.6

ZH1000

2.6或2.8

电耐久性

最后测

正向峰值

反响重复

峰值电流

CRRL放行批证

明记录

GB4938

Tcase=25℃

(另有规定除外)

高温反偏

结温=150℃正

弦波50Hz,

70%VRRM,

按A2b

按A2b

JB5841—91

续表5

检验要求(最大值)

2.6或2.9

2.9或3.1

简要绘出B5和B8的属性资料,检验前后的VM和IRRM值,检验结论。注:在检验要求栏中的n、c分别为抽样数和合格判定数,以下同。ZH10cO

单位nc

如B组第一次提交检验不合格,可按附录A中A2追加抽样再进行一次检验,但每一检验分组只能追加一次,且追加的样品应经受该分组的全部检验。4.3周期(C组)检验

C组检验按表6规定。正常生产的定型产品,每年至少应作一批C组检验。标有(D)的检验是破坏性的。

正向不

重复浪

涌电流

最后测

正向峰

值电压

反向重复

蜂值电流

C2d结壳热阻

见附录

Tcase=25℃

(另有规定除外)

结温=150℃,

B中B3

一个凋波,20次

按A2b

按A2b

见附录

B中B4

检验要求(最大值)

全部尺寸符合规定

按3.2.1的L、H的两个级

2.6或2.9

ZH1000

2.9或3.1

电耐久性

最后测

正向峰

值电压

反向重复

峰值电流

高温贮存

最后测

正向蜂

值电压

反向重复

烽值电流

CRRL行批证

明记录

Tcase=25℃

(另有规定除外)

GB4938|高温反偏

结温=150℃,正

弦波50Hz,76%

100-8 h

按A2b

按A2b

Ta=160_g℃

GB4937

10006h

按A2b

按A2b

JB5841—91

续表6

检验要求(最大值)

2.6或2.9

2.6或2.9

2.9或3.1

2.9或3.1

ZH1000

简要给出C8、C9的属性资料,检验前后的VM和IRRM值,检验结论。注:如C组第一次提交检验不含格,可按B组第一次提交检验不合格处理,鉴定批准(D组)试验

D组试验按表7规定。IVD为各个器件的初始值。表7

热循环

最后测

正向峰

值电压

反向重复

峰值电流

见附录

Tcase=25℃

(另有规定除外)

循环次数:

B中B5压接器件5000次

焊接器件1000次

按A2b

按A2b

检验要求(最大值)

ZH1000

单位nc

恒定加

最后测

正向蜂

值电压

反向重复

峰值电流

标志和订货资料

器件上的标志

Tcase=25c

(另有规定除外)

两个不同主轴每

GB4937

轴的两个方向各

按A2b

按A2b

器件型号和质量类别:

端子识别:

用二极管的图形符号“·一斗

JB5841-91

续表7

检验募求(最大值)

2.1或2.6

ZH1009

2.6或2.8

单位nc

”表示,箭头指向阴极端子;或涂红色点表示阴极端子,阳极端子涂兰(或黑)色点或不涂颜色。c:制造厂名称、代号或商标;

d。检验批识别代码。

5.2器件包装盒(箱)的标志

a。除端子标志以外器件上的全部标志;b。防潮、防雨标志;

C,本标准编号。

5.3订货资料

订购一种器件至少需要以下资料:a。准确的型号;

b本标准编号;

质量评定I类;

其它。

A1AQL抽样

AQL抽样按表A1

批量范围

16—25

51--90

91-150

151-280

291-500

501-1200

120132c0

3201-10000

10001—35000

35001—150000

样品量

JB5841-91

附录A

抽·样方案

(补充件).,

注;①本表属检验水平(IL)H;③臂头表示应使用指向的第二个抽样方案,若箭头指向对应处的样品量等于或大于批量,则应对批进行百分②c:合格判定数,I不合格判定数;之百检验。

追加抽样

追加抽样按表A2

初次抽样

追加抽样

追加数

样品量

合格判定数

B1正向峰值电压(Vpz)

本测试使用脉冲法。

B1.1原理电路及要求

原理电路如图B1所示。

—被测器件;Rs

JB5841-91

附录B

极限值和电特性的检验和测试

(补充件)

已校准测量电流的电阻器;L、C-(A)

一产生正向电流脉冲

的电感器和电容器;S-—控制电流脉冲的开关器件,接通时产生脉冲,脉冲电流结束应立即断开;Vp、Ap--峰值电压表、峰值电流表或示波器。峰值电压表应能显示正向电流达到峰值时的电压值,GB1.2测试条件

可调脉冲交流电源。

a。结温:逐批试验为25℃,要求时可为25℃和T(v);b.

正向峰值电流:额定正向平均电流的元倍(元可取3)或按产品标准规定;电流脉冲宽度:按被测器件在测量期间载流子能充分达到平衡选取:c.

电流脉冲:可以是单次的,也可以是发热可以忽路的低重复频率的;e.

测量点位置:按图B2规定,

被测器件与夹具的紧固压力或力矩:按产品标准规定。公属压板

全属压板

反向重复峰值电流(IRRM)

原理电路及要求

原理电路如图B3所示,

一被测器件;

D、Da

JB5841—91

一提供负半周电压的二极管,使只测量D的反向特性;1一限流保护电阻器。当D击穿时,限制通过D的电流:G-可调交流电压源;R

-已校准测量电流的电阻器;AP、VrRs

值电流表显示反向电压达到峰值时的电流值。B2.2测试条件

结温:25℃和T(1),

反向电压:VRR3)

交流电压频率:50Hz

正向(不重复)浪涌电流(IPS)原理电路及要求

原理电路如图B4所示。

D--—被测器件;Ap、Vp

峰值电流表、峰值电流表或示波器。蜂50H

一峰值电流裘、峰值电压表或示波器(余辉时间长的);—阻断由变压器T产生的正向电压的二极管;R.调节浪涌电流的电阻器;Di

一在正向浪涌半周期间,具有180°导R.使电路正常工作的最小保护电限器,S通角的机械电气或电子开关;T1一通过S提供正向半周浪涌电流的低压大电流变压器。此电流波形应基本上是持续时间近似10ⅡS,重复频率近似每秒50个脉冲的正弦半波,T.通过整流二极管D提供反向半周电压的高压小电流变压器。如变压器由单独的电源馈电,则T:与T:应在电网的同一相上馈电。其电压波形应基本上是正弦半波。137

B3.2测试条件

浪涌前结温:T(n)

浪涌电流峰值:按产品标准规定反半周电压:80%VRRM$

JB584191

每次浪涌的周波数:一个周波,导通角在160°至180°之间;浪涌次数:20次。

结壳热阻(Rie)

B4.1原理

被测二极管通以加热电流产生损耗功率P。热平衡时,由测得的等效结温T(I)和管壳温度Te,按公式(B1)计算结壳热温R1c:

Ri。T(o)-T。

也可用两次法,即对被测器件施加两次不同的加热功率P,和P2,通过调节冷却条件使两次结温相等(用热敏电压监视),并测得对应管壳的温度Tci和Tc2,则可按接公式(B2)计算结壳热阻:Ri=

B4.2原理电路及要求

原理电路如图B5所示。

Tcu-Tco

D——被测器件;E—提供加热电流I:的电源,加热电流可以是直流或交流电流:I.

在加热电流周期中断后的短时间内,流过被测器件监视其结温的直流热敏电流,S.周期地中断加热电流I的电子开关;S—-加热电流中断时闭合的电子开关;V

热敏电压检测单元,W

一指示电流在被测器件结中产

生损耗功率的功率表,也可用电流表和电压表,功率由电流、电压计算确定。B4.3测试条件

a,加热电流I,的大小:用公式B1方法,I产生的功率应使结温按近或达到等效结温,通常为额定电流。用公式(B2)方法,通过对两次加热电流及冷却条件的调节,使两次测得的管壳温度相差尽可能大,以保证测量的精度;

b.热敏电流I=1%~10%I(as

c,测量Tc的婴求按GB4024的1.6.1和2.1.1;138

JB5841-91

热敏电压应在中断加热电流后0.51ms期间测量:e。被测器件的紧固压力或力矩按产品标准规定。热循环负载

B5.1原理电路及要求

原理电路如图B6所示。

D被测器件;

提供加热电流的低电压大电流变压器T

R——调节加热电流的电阻器;S—由时间继电器或温度继电器控制的周期接通和断开的开关。被测二极管的结温可由管壳温度间接监视:A

一直流电流表。

测试电路的加热电流波形和结温变化波形的关系如图B7所示。lp

加热对间

B5.2测试条件

冷迎防间

一次循环

a。加热电流:波形为工额正弦波,值为额定正向平均电流(误差为-10%~0),b,结温范围:加热期间的最高温度为T(vi)-%℃,如被测器件串联测试,可为T(vi)-℃,冷却139

现行

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