标准中涉及的相关检测项目

根据标准《JB/T 5847-1991 高温阻断试验方法导则》,其中提到的相关检测项目、检测方法和涉及产品包括以下内容:

检测项目

  • 阻断温度测试
  • 耐热性测试
  • 热老化测试
  • 材料强度测试
  • 导电性能测试

检测方法

  • 加热箱法:将样品放置于恒温箱内,逐步升温以确定材料的阻断温度。
  • 热循环试验:反复加热和冷却样品,以测试其耐热性和稳定性。
  • 拉伸试验:在高温环境中测试材料的机械强度。
  • 电阻测试:测量样品在高温下的电阻和其它相关电气性能。

涉及产品

  • 高温绝缘材料
  • 耐热塑料和橡胶
  • 电子元器件
  • 高温电线电缆

这些项目和方法帮助确保材料在高温环境下能够有效阻断热量和保持性能稳定。

JB/T 5847-1991 高温阻断试验方法导则的基本信息

标准名:高温阻断试验方法导则

标准号:JB/T 5847-1991

标准类别:机械行业标准(JB)

发布日期:1991-10-24

实施日期:1992-10-01

标准状态:现行

JB/T 5847-1991 高温阻断试验方法导则的简介

本标准规定了普通整流管、普通晶闸管及其派生器件的高温阻断试验方法。本标准适用于产品逐批检验、周期检验。本标准不适用于产品可靠性定级、维持等试验。JB/T5847-1991高温阻断试验方法导则JB/T5847-1991

JB/T 5847-1991 高温阻断试验方法导则的部分内容

中华人民共和国机械行业标准

高温阻断试验方法导则

丰题内容与适用范留

JB/T5847--91

本际准规定了普通整流管、普通晶闸管及其派生器件(以下称产品)的高温阻断试验方法。本标准适用于产品逐批检验、周期检验。本标准不适用于产品可靠性定级、维持等试验。引用标准

GB4939

普通整流管

GB4940普通晶闸管

GB3187可靠性基本名词术语及定义GB2900.32电工名词术语电力半导体器件GB4936.1半导体分立器件总规范GB2828逐批检查计数抽样程序及抽样表3术语

3.1高温阻断试验

在规定的时间内对产品施加规定的温度和PN结反向偏置电压的试验。3.2耐久性

产品在规定的使用和维修条件下,达到某种技术或经济指标极限时,完成规定功能的能力、3.3失效

产品丧失规定的功能。

3.4失效模式

失效的表现形式。

3.5失效机理

引起失效的物理、化学变化等内在原因。3.6早期失效

产品由于设计制造上的缺陷等原因而发生的失效。(GB3187一82中2.2.6条)。3.7筛选试验

为选择具有一定特性的产品或剔除早期失效而进行的试验。3.8耐久性试验

为考察产品的性能与所加的应力条件的影响关系而在一定时间内所进行的试验。3.9PN结

半导体P型区和N型区之间的结。试验目的

筛选试验的月的是剔除早期失效的产品。耐久性试验的目的是考核产品在规定的条件下完成规定功能的能力。5电路原理

机械电子工业部1991—10-24批准176

1992-10—01实施

T电源交压器

RI-—试验回路限流电阻,

S—熔断器:

JB/T5847-91

加热备

需电滤测盘系统

图1高温阻断试验电路

一试验主回路限流电阻;

Rc门设电阻;

断态峰值电压测量表:

漏电流取样电阻;

受试产品;

空温系统

逆温保

护电路

反向降值电压测僵表。

注:在某些类型的晶闸管中,由于电源接通或试验电路的噪音等原因,有时会引起晶闻管的开通。Ro可降低门极灵敏度,达到防止开通的目的。6抽样数量

筛选试验抽样推荐按表],亦可按生产方或交货合同规定的详细要求进行全数或抽样试验。裹

产品容量

《100A

按GB2828,

AQL为2.5或4.0

6.2耐久性试验按GB4939的3.2、GB4940的3.2,或有关详细规范的B8、C8分组规定的抽样方案进行。

7试验条件

7.1试验电压

试验电压按有关标准规定值或本标准的表2选取。试验电压的变化应在规定值的0%~-10%之内。7.2试验温度

筛选试验温度的变化应符合表2规定。耐久性试验温度按GB4939的3.2或GB4940的3.2的规定。177

7.3试验持续时间

筛选试验的时间推荐采用表2的值。JB/T5847—91

耐久性试验的时间按GB4939的3.2或GB4940的3.2确定。由于各种原因使试验中断,应尽可能在24h内恢复试验,试验时间允许接续计算。筛选试验可按表2所列组合条件进行。裘2

试验电压V

VRM和(或)VDR

注;T=为受试产品额定结温。

试验设备、仪器、仪表

试验温度

8.1试验仪器、仪表的精度率应不低于1.5级。8.2试验保护措施

试验时间

试验时,加热装置应有过热控制保护措施以限制最高温度。试验电路须采用抑制瞬态过电压的措施,以防止由于瞬态过电压使产品损坏。失效判据

试验后,判定器件失效的失效判据见表3。裘3

器件类别

普通晶管2)

普通整流管\)

派生器件3》

注:1)

USL=规范的上限值

判定失效电参数

单个元件加热方式

失效判据

>2xUSL或>1xUSLt)

>2×USL或>1×USL

>2×USL或>1×USL

如果产品在试验时丧失了规定的阻断电压能力,则认为该器件失效;可参照表3中普通晶阐管和普通整流管制订相应的失效判据。测试结束后,试品在常温下放置2h再进行测试。全部测试均应在96h内完成。9.2

批试验不合格时,则应按GB4936.1的3.6.2.4周期检验不合格时的程序处理。178

10试验记录和试验报告

10.1试验记录

JB/T584791

在试验过程中,应做好准确、完整的试验记录,对每一试品要按时间顺序,在规定时间内或失效发生后进行漏电流数据记录。当因误试(如试验设备故障或测量仪器故障或操作人员失误)而使器件失效时,应将失效记入试验记录,并说明原因。10.2试验报告

试验报告是在试验结束后根据试验记录和分析作出最后结论的文件,其内容应按附录A要求。179

制造单位

试验日期

试验条件

试验口

累积试验时间(h)

失效产品编号

产品型号和规验

累积失效数

试验结论和建议采取的措施

填表人:

试验负责人:

附加说哦,

失效发生时间

JB/T5847-91

附录A

高温超断试验报告表

(补充件)

高题断试报告表

批益效量

试验持准、方察等文件名称、代号性

[naIGT

试验设备、仅严敬障发生时间

试整单:

本标准由机就电子工业部雷安电力电子技术研究所提出并归口,本标准出机检电子工业帮西安电力电子技术码究所负责起萃。本标准主要起草人王梦龙、李学敏。日

IanxIat

投试数量

失效判据

职积维修时间

(盖章)

维修人

现行

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