PLD可编程逻辑器件检测

检测范围

CPLD、FPGA、ASIC、Microcontroller、RFID、Sensor、Memory、Network Switch、Optical Transceiver、Power Supply、Microprocessor、LED Display、Camera Module、Audio Codec、Bluetooth Module

CPLD, FPGA, ASIC, Microcontroller, RFID, Sensor, Memory, Network Switch, Optical Transceiver, Power Supply, Microprocessor, LED Display, Camera Module, Audio Codec, Bluetooth Module

检测项目

相关的质量及性能检测项目包括：

1. 静态电参数测试：测试PLD器件的输入和输出端口的电阻、电压、电流等参数，以确保其符合规格要求。
2. 时序性能测试：测试PLD器件的时钟频率、延迟时间等性能指标，以确保其在工作时能够满足设计要求。
3. 功能性测试：测试PLD器件在不同输入条件下的输出是否符合预期，验证其逻辑功能正常。
4. 温度循环测试：将PLD器件置于不同温度环境下进行循环测试，以评估其在不同温度条件下的性能稳定性。

这些检测项目可以帮助确保PLD器件在生产过程中的质量和性能符合设计要求，保证其在各种工作条件下可靠运行。

检测方法

可编程逻辑器件（PLD）的检测主要包括以下几个方法：

1. 静态测试：使用专门的测试设备对PLD进行逻辑功能的测试，包括输入输出端口的连通性、逻辑电平的稳定性等。

2. 动态测试：通过输入不同的逻辑信号序列，观察PLD的输出是否符合预期的逻辑功能，以验证PLD的正常工作。

3. 编程器测试：使用专门的编程器将测试程序或者逻辑设计加载到PLD中，检查加载的程序是否正确以及PLD的正常工作状态。

4. 仿真测试：通过在仿真软件中建立PLD的逻辑模型，对PLD进行逻辑功能的仿真测试，以验证设计的逻辑功能是否符合预期。

5. 电气特性测试：测量PLD在给定电压和工作频率下的电流消耗、功耗、温度等电气特性，以评估PLD的工作性能。

检测仪器

对PLD（可编程逻辑器件）进行检测通常需要使用逻辑分析仪（Logic Analyzer）、示波器（Oscilloscope）和编程器（Programmer）等仪器设备。

检测标准

IEEE 1532-2000 可编程设备的系统内配置标准

CECC 90 114 ISSUE 1-1990 空白详细规范：可编程逻辑阵列（PLA)（英，法，德） 第1次修订（En、Fr，)

NF C86-255-1991 电子元件统一质量评审体系.可编程序逻辑网络范围.空白详细规范

JIS C1901-1987 可编程测量仪的接口系统

JIS B3500-1990 可编程控制器术语

BS EN 61131-5-2001 可编程控制器.通信

IEC 62733-2015 电子灯控制装设备的可编程器件. 通用和安全要求

ANSI/IEEE 1174-2000 可编程测量仪的标准串行接口

JIS B3503-1997 可编程控制器－程序语言

PD IEC TR 61131-8-2000 可编程控制器.编程语言的应用和执行指南

检测服务流程

确认测试对象及项目：根据要求确认测试对象并进行初步检查，安排样品寄送或上门采样；

制定与确认实验方案：制定实验方案并与委托方，确认验证方案的可行性和有效性；

签署委托书与支付：签署委托书，明确测试细节，确定测试费用并支付；

执行与监控实验测试：严格按照实验方案执行测试，记录数据，进行必要的控制和调整；

数据分析与出具报告：分析数据并进行归纳，撰写并审核测试报告，出具报告，并反馈结果给委托方。