检测项目

网络阵列电阻的核心检测项目包含五大技术维度:

基础参数验证:测量标称阻值与实际阻值的偏差率(±0.1%~±5%),判定是否符合JIS C5201规定的精度等级

温度特性分析:在-55℃~+155℃温区内测试温度系数(TCR),记录α值(ppm/℃)变化曲线

绝缘性能测试:施加500VDC电压测量相邻电阻体间绝缘阻抗(≥10GΩ),持续时间60±5秒

耐压强度试验:按UL94标准进行1000VAC/1分钟介质耐压测试,监测漏电流(≤1mA)

老化特性评估:85℃/85%RH环境下进行1000小时耐久性试验后复测参数漂移量

检测范围

本检测体系适用于以下应用场景:

产品类型阻值范围封装形式
厚膜网络电阻10Ω~10MΩSOP-14/QFP-16
薄膜集成电阻1Ω~1MΩSMD-1206/0805
高压隔离电阻阵100kΩ~100GΩDIP-24/PLCC-20
精密匹配电阻组0.1Ω~100kΩBGA-48/LGA-32

特殊环境适应性测试涵盖军工级(-65℃~+175℃)、汽车级(AEC-Q200)及航天级(MIL-PRF-55342)产品。

检测方法

四线制测量法:采用开尔文夹持方式消除接触电阻影响,在23±1℃标准环境测量阻值

测试电流:≤10mA(防自热效应)

稳定时间:≥30秒(热平衡)

恒温箱测试法:

阶梯式温度循环:25℃→-55℃→+125℃→25℃,每阶保持30分钟

TCR计算公式:α=(R2-R1)/(R1×(T2-T1))×10^6(ppm/℃)

高阻计法绝缘测试:

电极间距:≥1.6mm(符合IPC-2221A规范)

充电时间:60秒(极化效应消除)

耐压测试仪法:

电压爬升速率:500V/s(防电压冲击)

失效判定标准:击穿放电或漏电流突变>5%

检测仪器

高精度数字电桥(LCR Meter)

- Keysight E4980AL型

- 基本精度:0.05%

- 频率范围:20Hz~2MHz

- 四端对接口配置

程控恒温箱(Thermal Chamber)

- ESPEC SH-261型

- 温控精度:±0.3℃

- 变温速率:5℃/min

- 内建RS485通讯接口

绝缘电阻测试系统(IR Tester)

- Hioki IR4056-20型

- 电压范围:10~1000VDC

- 测量范围:1×10^3~1×10^16Ω

- 自动放电保护功能

耐压测试仪(Hipot Tester)

- Chroma 19032型

- AC输出:0~5kV/20mA

- DC输出:0~6kV/5mA

- ARC侦测灵敏度:5mA(可调)

老化试验系统(Burn-in System)

- Thermotron SM-32C型

- 并行测试通道:64路

- 数据采样间隔:15min

- MTBF计算模块集成

典型测试数据记录表示例(局部)

样品编号初始参数@25℃老化后参数@25℃
阻值(Ω)TCR(ppm/℃)IR(GΩ)阻值变化率(%)TCR偏移量(ppm)
A01-RN204J200.4±0.3%±50ppm/℃≤±75ppm/℃合格。

[注]所有测试数据均通过CMA/CNAS认证的实验室管理系统(LIMS)自动采集, 原始数据保存期限不少于产品寿命周期+5年。

典型温度系数曲线示意图

本文所述方法引用标准现行有效期为2023年12月版。

检测服务流程

确认测试对象及项目:根据要求确认测试对象并进行初步检查,安排样品寄送或上门采样;

制定与确认实验方案:制定实验方案并与委托方,确认验证方案的可行性和有效性;

签署委托书与支付:签署委托书,明确测试细节,确定测试费用并支付;

执行与监控实验测试:严格按照实验方案执行测试,记录数据,进行必要的控制和调整;

数据分析与出具报告:分析数据并进行归纳,撰写并审核测试报告,出具报告,并反馈结果给委托方。

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