网络阵列电阻的核心检测项目包含五大技术维度:
基础参数验证:测量标称阻值与实际阻值的偏差率(±0.1%~±5%),判定是否符合JIS C5201规定的精度等级
温度特性分析:在-55℃~+155℃温区内测试温度系数(TCR),记录α值(ppm/℃)变化曲线
绝缘性能测试:施加500VDC电压测量相邻电阻体间绝缘阻抗(≥10GΩ),持续时间60±5秒
耐压强度试验:按UL94标准进行1000VAC/1分钟介质耐压测试,监测漏电流(≤1mA)
老化特性评估:85℃/85%RH环境下进行1000小时耐久性试验后复测参数漂移量
本检测体系适用于以下应用场景:
产品类型 | 阻值范围 | 封装形式 |
---|---|---|
厚膜网络电阻 | 10Ω~10MΩ | SOP-14/QFP-16 |
薄膜集成电阻 | 1Ω~1MΩ | SMD-1206/0805 |
高压隔离电阻阵 | 100kΩ~100GΩ | DIP-24/PLCC-20 |
精密匹配电阻组 | 0.1Ω~100kΩ | BGA-48/LGA-32 |
特殊环境适应性测试涵盖军工级(-65℃~+175℃)、汽车级(AEC-Q200)及航天级(MIL-PRF-55342)产品。
四线制测量法:采用开尔文夹持方式消除接触电阻影响,在23±1℃标准环境测量阻值
测试电流:≤10mA(防自热效应)
稳定时间:≥30秒(热平衡)
恒温箱测试法:
阶梯式温度循环:25℃→-55℃→+125℃→25℃,每阶保持30分钟
TCR计算公式:α=(R2-R1)/(R1×(T2-T1))×10^6(ppm/℃)
高阻计法绝缘测试:
电极间距:≥1.6mm(符合IPC-2221A规范)
充电时间:60秒(极化效应消除)
耐压测试仪法:
电压爬升速率:500V/s(防电压冲击)
失效判定标准:击穿放电或漏电流突变>5%
高精度数字电桥(LCR Meter)
- Keysight E4980AL型
- 基本精度:0.05%
- 频率范围:20Hz~2MHz
- 四端对接口配置
程控恒温箱(Thermal Chamber)
- ESPEC SH-261型
- 温控精度:±0.3℃
- 变温速率:5℃/min
- 内建RS485通讯接口
绝缘电阻测试系统(IR Tester)
- Hioki IR4056-20型
- 电压范围:10~1000VDC
- 测量范围:1×10^3~1×10^16Ω
- 自动放电保护功能
耐压测试仪(Hipot Tester)
- Chroma 19032型
- AC输出:0~5kV/20mA
- DC输出:0~6kV/5mA
- ARC侦测灵敏度:5mA(可调)
老化试验系统(Burn-in System)
- Thermotron SM-32C型
- 并行测试通道:64路
- 数据采样间隔:15min
- MTBF计算模块集成
样品编号 | 初始参数@25℃ | 老化后参数@25℃ | |||
---|---|---|---|---|---|
阻值(Ω) | TCR(ppm/℃) | IR(GΩ) | 阻值变化率(%) | TCR偏移量(ppm) | |
A01-RN204J | 200.4±0.3% | ±50ppm/℃≤±75ppm/℃合格。 |
[注]所有测试数据均通过CMA/CNAS认证的实验室管理系统(LIMS)自动采集, 原始数据保存期限不少于产品寿命周期+5年。
典型温度系数曲线示意图
本文所述方法引用标准现行有效期为2023年12月版。
确认测试对象及项目:根据要求确认测试对象并进行初步检查,安排样品寄送或上门采样;
制定与确认实验方案:制定实验方案并与委托方,确认验证方案的可行性和有效性;
签署委托书与支付:签署委托书,明确测试细节,确定测试费用并支付;
执行与监控实验测试:严格按照实验方案执行测试,记录数据,进行必要的控制和调整;
数据分析与出具报告:分析数据并进行归纳,撰写并审核测试报告,出具报告,并反馈结果给委托方。