标准中涉及的相关检测项目

在标准《JB/T 4330-1999 制冷和空调设备噪声的测定》中,主要包括以下内容:

检测项目:

  • 制冷设备和空调设备运行时的噪声测试。
  • 设备在不同工况下噪声变化的测定。
  • 设备各组成部分(如压缩机、风扇)的噪声贡献分析。

检测方法:

  • 声压级测量法:利用声级计在规定的位置对设备噪声进行测量。
  • 声功率级测量法:在试验场地的自由声场条件下进行测量,计算设备的声功率级。
  • 频谱分析法:对噪声信号进行频谱分析,以确定噪声特性。

涉及产品:

  • 家用及商用空调器。
  • 各种类型的制冷机组(如冷库、冷藏柜用制冷机组)。
  • 其他与制冷和空调相关的设备,如恒温器、冷却塔等。

这些检测项目和方法确保了对制冷和空调设备噪声性能的全面评估,有助于提升产品的舒适度和合规性。

JB/T 4330-1999 制冷和空调设备噪声的测定的基本信息

标准名:制冷和空调设备噪声的测定

标准号:JB/T 4330-1999

标准类别:机械行业标准(JB)

发布日期:1999-07-12

实施日期:2000-01-01

标准状态:现行

JB/T 4330-1999 制冷和空调设备噪声的测定的简介

本标准规定了反射平面上自由场条件下噪声声功率级的测定方法;附录C给出了噪声声压级的测量方法;附录D给出了空调机(器)噪声声压级的测量方法。本标准适用于由工厂组装出厂的制冷和空调设备及部件。JB/T4330-1999制冷和空调设备噪声的测定JB/T4330-1999

JB/T 4330-1999 制冷和空调设备噪声的测定的部分内容

JB/T4330--1999

本标准是对JB4330一86《制玲和空调设备噪声声功率级的测定工程法》进行的修订

原标准自1986年首次发布,在实施中尚有不妥之处,如两个反射面的测试方法,在实施中有一定的难度,为了与相关标准的协调,对内容作了适当的修改,并在标准附录中增了声压级的测量。本标准的附录A.附录B、附录C和附录D都是标准的附录。本标推的附录E是提示的附录。

本标准自实施之日起代替JB4330--86。本标准由全国冷冻设备标准化技术委员会提出并归口。本标推负责起草单位:合肥通用机械研究所。本标准主要起草人:孟昭朋、林泽安。55

1范围

中华人民共和国机械行业标准

制冷和空调设备噪声的测定

Determination of noise emitted by refrigerantingand air conditioning equipmentsJB/T 4330—-1999

代替JB4330-86

本标准规定了反射平面上自由场条件下噪声声功率级的测定方法,附录C(标准的附录)给出了噪声声压级的测量方法;附录D(标准的附录)给出了空调机(器)躁声声压级的测量方法。本标准适用于由工厂组装出厂的制冷和空调设备及部件(以下统称机组)。2引用标准

下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标推的条文。本标准出版时,所示版本均为有效。所有标推都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标推最新版本的可能性。GB/T3785—1983声级计的电、声性能及测试方法JJG176—1984声校准器检定规程JJG188--1984声级计检定规程

3测试环境

3.1反射平面

反射平面应是由混凝土、沥青、水磨石或其他类似的坚实材料构的平整表面,尺寸应大于测量表面在其上的投影。

3.2合适的测试环境

机组应在一个反射平面上的半空间内进行噪声测试。理想的测试环境是除了规定的反射平面以外,没有其他反射物。附录A(标的附录)给出了测试环境的鉴定方法。4需测定的量与测量误差

4.1需测定的量

A计权声功率级和其中心频率在125Hz和8000Hz之间的七个倍频程声功率级。4.2测量

A计权声功率级的标准偏差约为2dB。倍频程声功率级的标准偏差见表1。国家机械工业部1999-07-12批准56

2000-01-01 实施

倍频程中心频率

250-~500

1 000 ~~ 4 000

JB/T 4330--1999

标准偏差

注:上述测量误差系指由于各种因紊所造成的累计标准偏差,但不包括各次测量中因机组安装和运行状况的改变所引起的声功率的变化。

5测量仪器

5.1概述

测试仪器使用GB/T3785中规定的型或I型以上的声级计,以及精度相当的其他测试仪器。声级计或其他测试仪器与传声器之间应使用延伸杆或延伸电缆。倍频程分析仪应符合有关标准的规定。5.2校准

每次测量前、后应用推确度优于士0.5dB的声级校准器在一个或多个频率上对整个测试仪器系统进行校准,声级校准器应按JJG176定期检定。声级计及其他测试仪器应按JJG188定期检定。6机组的安装与运转

6.1机组的安装

固定式机组应按有关技术条件的要求进行安装,移动式机组应直接放置在反射地面上;所有的部件都应安装完整。但不应额外增加隔振、隔声和吸声部件。6.2机组的运转

机组应在稳定工况下连续运转,对不同的机组作如下规定:a)对于制冷压缩机、压缩冷凝机组应在有关标准规定的名义制冷工况下运转。b)对于房间风机盘管空调器、风冷冷凝器等,可仅在风机运转的状况下测试。心)其他机组运行工况按有关机组试验方法的规定。7基准体和测量表面

7.1基准体

基准体是一个恰好包络被测机组并终止于反射平面上的最小矩形六面体。确定基准体时,对于机组上凸出的小部件(如连接管、拉手等)不予考虑。7.2测量表面

测量表面分为半球测量表面和矩形六面体测量表面[见附录B(标准的附录)中的图B1和图B2]。7.2.1半球测量表面

a)对于全封闭、半封闭制冷压缩机及尺寸较小的其他机组,选用半球测量表面。b)半球测量表面的中心就是基推体几何中心在反射平面上的投影,半球测量面的半径r应不小于特性距离d,的两倍,特性距离d。按式(1)计算:d。[(0.51,)2+(0.5)→1/2

式中d。特性距离,m

-基雅体的长、宽、高m。

半球面半径r优先选取1m或2m。如果d。大于1m,则应选用7.2.2所述的矩形六面体测量57

表面。

c)半球测量表面面积按式(2)计算式中:S-—半球测量表面面积,m2半球测量表面半径,m。

7.2.2矩形六面体测量表面

JB/T 4330--- 1999

S, = 2元r2

矩形六面体测量表面是位于反射平面上的与基准体几何相似的矩形箱表面。测量表面与基推体对应面应平行且相距为d。测量距离d的规定按附录A。优先选用的测量距离为1 m。测量表面面积按式(3)计算:

S2 = 4(ab + αc + bc)

式中:S2

测量表面面积,m;

测量表面长、宽的一半,m;

测量表面的高,m。

8声压级的量

8.1背最噪声

8.1.1下列情况之-,仅需在一→个测点位置上测定背景噪声:a)背景噪声声压级比机组噪声声压级低1QdB以上;b)背景噪声源远离试验场地:

c)基谁体最大尺寸小于1m。

否则,应在每一个测点位置上测量背景噪声(3)

8.1.2背景噪声按表2进行修正,本标准要求测得的机组噪声声压级与背景噪声声压级之差应不小于6 dB。

测得的机组噪声声压级与背景噪声声压级的差68

8.2风速

从测得的声压级中减去的修正量1.0

测试时测点附近的风速应小于6m/s(相当于4级风)。当风速大于1m/s时应使用风罩。8.3测点位置

8.3.1所有的测点位置都应在7.2所确定的测量表面上,附录B中图B1和图B2给出了测量表面上测点位置,表B1和表B2给出了各测点的坐标。8.3.2半球测量表面上共布置10个测点(见图B1和表B1)。8.3.3矩形六面体测量表面上的测点分为基本测点和附加测点,基本测点为9个,附加测点为8个(见图B2和表B2)。

8.3.4在下列情况下需附加测点:a)基准体的任一边大于2d(d为测量距离);b)基本测点上测得的声压级最大值与最小值之差超过测点数;c)当被测机组很大或选用较小的测量距离时,应继续增加附加测点,使测量表面上测点间距不超过2d.并均匀地分布。

8.3.5测点数的减少

JB/T 4330—1999

对某种型式的机组,如果通过测试表明减少若干测点测定的声功率级与基本测点上测定的声功率级之差在士1dB之内,则可以适当减少测点数。8.4测量

测量的传声器应正对被测机组方向。声级计应采用慢”时间计权特性测量。当声级计指针摆动不大于士3dB时,取观测时最大与最小声压级的平均值。A计权和中心频率大于160Hz的倍频程,观测时间至少为10s;中心频率小于160Hz的倍频程,观测时间至少为30$。当声级计指针摆动大于土3dB时,则:a)应当使用具有较长时间常数的模拟仪器或数字积分式声级计进行测量:b)对周期变化的非稳态噪声,用声级计的“慢”时间计权特性测量,将一个周期内声压级及持续时间记录下来,计算一个周期的能量平均值。8.5测量环境的修正

当测量环境中有不必要的反射物存在时,则对测量结果应加以修正,确定环境修正值K的方法见附录A。

9测量表面平均声压级和声功率级的计算9.1表面平均声压级的计算

测量表面平均声压级I,按式(4)计算:L, = 10lg(1/N)(

(100.11)

式中:L,---测量表面平均A计权或倍频程声压级,dB(基推值为20μPa);Ipi-按8.1对背景噪声修正后的第i点A计权或倍频程声压级,dB(基准值为20uPa);N——测点总数。

9.2声功率级的计算

声功率级按式(5)计算:

Lw = (L,- K)+ 1olg(S/S.)

式中:Lw——A计权或倍频程声功率级,dB(基准值为1 pW),I,——测量表面平均声压级,dB(基准值为20 μPa);K

环境修正值,dB(见附录A)

-测量表面面积,m;

基准面积为1m。

10测试记录

测试记录应包括如下内容,推荐的记录表格形式见附录E(提示的附录)。10.1被测机组

a)机组的型号、名称,制造厂和出厂编号及其他有关参数;b)机组的测试工况参数。

10.2声学环境

(5)

应记录反射平面情况、测试室体积、总表面积及吸声处理情况,并绘制声源位置示意图。对室外测量应记录风速、测点离最近的反射物的距离等情况。10.3测试仪器

a)仪器的型号、名称、制造厂和出厂编号;b)仪器检验的日期和部门。

10.4声学数据

JB/T 4330-

a)基准体尺寸、测量表面的尺寸和表面积b)测点位置,并绘制测点位置示意图;c)各测点上A计权或倍频程声压级;d)背景噪声声压级和相应的修正值,按附录A确定的环境修正值K;e)测量表面平均A计权或倍频程声压级及计算得到的声功率级。10.5气象条件

温度、相对湿度和大气压力。

10.6测试人员、时间、地点及其他需要说明的情况。11测试报告

测试报告包括如下内容,推荐的测试报告表格形式见附录E。a)机组型号、名称.制造厂和出广编号;b)测试工况:

c)A计权声功率级及倍频程声功率级d)报告应注明是根据本标准进行测定的。60

A1概述

JB/T4330-1999

附录A

(标准的附录)

测试环境的鉴定方法

本附录规定了用绝对比较法和混响时间法确定环境修正值K。A1.1在下列情况下可不进行环境修正(即K=0):a)距任一测点位置10m之内没有反射物的室外场地;b)按有关标准鉴定合格的半消声室。注:声反射物主要指建筑物和一些较大的设备,对于靠近声源的障碍物的宽度(如桩、柱子的直径)大于它距声源距离的十分之一时,则认为是声反射物。A1.2环境修正值K

a)本标推要求环境修正值K不大于2dB;b)如测得K值大于2dB,可采用吸声措施或适当减小测量距离来减小环境修正值。但测量距离应不小于0.5 m;

c)当K值大于2dB且小于7dB,按本标准给出的测试程序测定A计权声功率级,如用于同类机组在相同的测试环境中声功率级的比较,其标雄偏差不大于3dB。A2绝对比较法

A2.1方法

绝对比较法又称为标准声源法。标声源应具有有关标准规定的声学特性,并按有关规定定期检定。检定合格的标准声源,效置在被测机组相同的测试环境中,采用和被测机组相同的测量面和测量点测定标准声源的声功率级(不需要环境修正项,K一0)。当标准声源放置在多个位置(见A2.2)时,测量表面平均声压级L,按式(A1)计算:式中:L。

L,= 10lglNM

i-l j-t

测量表面平均声压级,dB(基准值为20μPa);一测点总数:

标准声源放置点数:

第i个测点上、第i个放置点的声压级,dB(基准值为20μPa)。声功率级按式(5)计算(式中令K0),则K值由式(A2)求得:K= Lw-Lwo

式中:K环境修正值,dB

现场测得的标准声源的声功率级(不需要环境修正项),dB(基准值为1pW);Lwo

标准声源标定的声功率级,dB。A2.2标准声源的放置

根据不同情况,标准声源的放置分替代法、顶置法和侧置法三种。a)替代法

当被测机组能从测试场地移开时,采用替代法。标准声源放置点为基准体几何中心在反射面上的投影,

b)顶置法和侧置法

JB/T4330—1999

对现场安装的机组,不能从测试场地移开时,可采用顶置法或侧置法进行现场测试。顶置法是将标准声源放置在被测机组的顶面上;侧置法是将标雅声源放置在机组各侧面的中间。采用顶置法或侧置法时,机组表面应是完全声反射的。当需要用其他物件支承标准声源时,支承物表面应不大于标准声源底部的尺寸。

A3混响时间法

本方法适用于形状近似于立方形的室内环境(最大与最小尺寸之比小于3),环境修正值按式(A3)计算:

K = 10lg(1 +

式中:K-

环境修正值,dB;

测量表面面积,m,

A—房间的总吸声量,m\。

房间的总吸声量通过测量混响时间获得,按式(A4)计算:A = 0.16(V/T)

—房间的容积,m2,

式中,V-

T倍频程混响时间,S。

......(A3 )

(A4)

混响时间的测量参见有关标准,当采用本方法时,A计权声功率级由第A4章的力法合成。A4倍频程声功率级合成A计权功率级的方法倍频程声功率级合成A计权声功率级按式(A5)计算:LwA = 10lg 2

C100.1(w.+c,)

式中:LwA-—A计权声功率级,dB(基准值为1pW);Lwi-

第i个倍频程声功率级,dB(基准值为1pW);第i个倍频程A计权衰减量(见表A1)。C,

表A1倍频程中心频率的A计权衰减量编号:

借频程中心频率

(A5)

JB/T4330—1999

附录B

(标准的附录)

基准体、测量表面及测点位重

B1半球测量表面上测点位置见图B1及表B1。2

基准体

测量表面

测点号

B2矩形六面体测量表面及测点见图B2和表B2。3

现行

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