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检测项目：
检测方法：
涉及产品：
该标准主要涉及用于厚膜集成电路制作中的氧化铝陶瓷基片。这些基片用于电子产品中，需要具备特定的物理和电气性能。
请注意，由于该标准的详细条款和技术规范可能涉及到专门的行业词汇和复杂的测试步骤，具体的检测流程和标准要求可以通过查阅完整标准文本或相关技术指导获得更详细的信息。
标准名：厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
标准号：GB/T 14619-1993
标准类别：国家标准(GB)
发布日期：1993-09-03
实施日期：1993-01-02
标准状态：现行
拥有化学、材料、机械物理、可靠性、生物医药、微生物、化妆品功效评价等多个专业实验室。
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